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產品名稱:納米粒度分析儀SZ902

發布時間:2023-06-15

產品型號:SZ902型

產品特點:SZ902納米粒度分析儀是繼在SZ901系列后推出的全新一款高性能動態光散射納米粒度儀產品,加持了新研發的全自動聚焦技術,實現了對納米樣品的多角度測量,無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量,十分適合各種有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。納米粒度分析儀SZ902

SZ902型納米粒度分析儀SZ902的詳細資料:

SZ902納米粒度分析儀產品介紹:

 

     SZ902納米粒度分析儀是繼在SZ901系列后推出的全新一款高性能動態光散射納米粒度儀產品,加持了新研發的全自動聚焦技術,實現了對納米樣品的多角度測量,無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量,十分適合各種有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。

 




主要特點:

   ◆包含經典90°、背向和前向動態光散射技術測量粒徑,測量范圍覆蓋0.3nm–15μm

   ◆激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析,可準確預知分散體系的穩定性及顆粒團聚的傾向性


   ◆加持自動恒溫技術的最高功率可達50mW,波長638nm的固體激光光源,儀器即開即用

   ◆余弦擬合相位分析法(CF-PALS)優于目前的頻譜分析法(FFT)和傳統的位相分析法(PALS)

   ◆激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術

   ◆信號光與參考光的光纖合束及干涉技術

   ◆集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

   ◆常規溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C

   ◆新一代高速數字相關器,動態范圍大于1011

   ◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術

 

 




產品性能:

 

測量原理

動態光散射(DLS)、靜態光散射(SLS)、電泳光散射(ELS)

粒徑測量角度

90°,173°(高濃度),12°(Zeta電位)

粒徑測量范圍

0.3nm -15um*

粒徑測量最小樣品量

3ul*

粒徑測量最小樣品濃度

0.1mg/ml

粒徑測量最大樣品濃度

40%/wv

檢測點位置

距入射點0~5mm可調

檢測點定位精度

0.01mm

Zeta電位技術

余弦擬合位相分析法(CF-PALS)

適用Zeta電位測量的粒徑

任意范圍,無明確限制

遷移率范圍

1nm - 120μm*

最大電導率

270mS/cm

電導率準確度

±10%

電極

插入式平板電極、U型毛細管電極

分子量范圍

340Da - 2x107Da

溫度控制范圍

-15°C -  120°C

溫度控制精度

±0.1°C

光源

集成恒溫系統及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器

相關器

高速數字相關器,自適應通道配置

檢測器

高靈敏度APD

樣品池

12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池、40μL微量樣品池(多種可選)

系統重量

16kg

外形尺寸

365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)

   注:* 取決于樣品及樣品池選件

 

 

 

 


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